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高頻率LCR測試儀8230

簡要描述:高頻率LCR測試儀8230 10Hz~3/5/10/20/30MHz量測及多功能性為種不同類型的工作和應用程序高要求的選擇,用戶包括半導體、組件廠商、研發單位、進料檢驗、實驗室、學生。

  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新快照:2020-08-17
  • 訪  問  量:728

詳細介紹

品牌其他品牌外形尺寸 359x147x343 mm
重量 3.95 kg應用領域電子

高頻率LCR測試儀8230
高頻率LCR測試儀8230,提供 5 種頻率選項(10 Hz 至3/5/10/20/30 MHz),可在不同測量條件下進行高速連續測量。其等效電路分析功能支持7種不同的參數模型(三組件、四組件),可協助客戶仿真組件的等效參數值。并支持RS232、 USB 、LAN和 GPIB PC聯機能力。

高頻率LCR測試儀8230,支持各式各樣的測試治具與配件,例如可搭配介電系數治具,使PCB板設計人員能充分了解材料的介電特性的Layout線路,減少產品不良的情況發生,導磁系數治具,各種環形磁芯或鐵氧體磁芯及電磁屏蔽涂層材料的導磁系數量測,和懸臂治具,各種尺寸貼片組件或電路板上組件阻抗量測。讓量測步驟變得更為簡易及快速。8230為分析電子組件、和材料特性*的量測神器。

多功能性為種不同類型的工作和應用程序高要求的選擇,用戶包括半導體、組件廠商、研發單位、進料檢驗、實驗室、學生。

 

  • 信號源頻率范圍: DC, 10Hz ~ 3 / 5 / 10 / 20 / 30MHz
  • 信號源位準: 10mV ~ 2V / 200μA ~ 20mA
  • 基本阻抗量測精度 ±0.08%
  • 自動電平控制(ALC)功能
  • 輸出阻抗25Ω/100Ω 可切換
  • 性價比,除基本量測及繪圖分析功能,更支持介電及導磁系數量測
  • 超快量測速度 < 3ms
  • 開路/短路/負載校正功能
  • 電表模式下多可選擇四個組件參數,電感值及DCR 值可同時量測和顯示
  • 自動組件分類: 比較器功能及Handler 接口BIN 分類功能
  • 內建直流偏置電壓 -12到+12V
  • USB/ GPIB/ LAN/RS232 接口,實現快速自動化與數據存取功能
  • 可選購 PC 聯機數據分析軟件
  • 超低功耗 < 30W,無風扇設計,*
   
     
 
 
 測試頻率
  
  
  
  
  
小分辨率100mHz, 6位頻率輸入
準確度7 ppm±100mHz
基本測量準確度± 0.08% 
    
 
 
AC 量測 

 
測試信號電壓范圍 10mV - 2Vrms
電壓小分辨率1mV
準確度ALC ON:6% * 設定電壓 ±2mV
ALC OFF:10% * 設定電壓 ±2mV
測試信號電流范圍200µA - 20mArms
電流小分辨率10µA
準確度ALC ON:6% * 設定電流 ± 20µA
ALC OFF:10% * 設定電流 ± 20µA
測量時間 < 3mS
輸出阻抗可切換25Ω、100Ω (標稱值)
測試參數|Z|(阻抗)、|Y|(導納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串并聯電阻)、G(電導)、B(電納)、L(電感)、D(損耗因子)、Q(品質因子)、DCR(直流電阻) 、C(電容)、 Vdc-Idc(直流電壓電流)、ESR(等效串聯電阻) 、ε (相對介電系數)、μr (相對導磁系數)
測量模式Meter 模式、圖形掃描*,多步列表  *圖形掃描為G系列機型功能
校準功能開路、短路、負載
等效電路串聯、并聯
等效電路模型分析 (選購)三組件 (4 種模型)、四組件(3 種模型)
多步列表測試50組多步測試設定(每組15個測試步驟)
內建直流偏置電壓-12到+12V, 100Hz to 30MHz
PC LINK/CPK報表環境選購
內部儲存內存100組LCR儀器設定文件
外部USB內存LCR儀器設定文件、BMP圖像、測試數據
  
界面
I/O 界面Handler
串行通訊接口USB、RS232
并行通訊接口GPIB
顯示器 7.0”TFT, 800x480彩色屏幕
操作環境 溫度: 10℃ ~ 40℃, 濕度: ≦80%RH
電源要求 電壓90V ~ 264Vac
頻率47Hz ~ 63Hz
功耗低功耗設計:大30W (標稱值)
體積 (W*H*D)359x147x343 mm
重量3.95 kg
  • 高頻率LCR測試儀8230 10Hz~3/5/10/20/30MHz參數量測范圍
  
|Z|0.000 mΩ to 9999.99 MΩ
R, X± 0.000 mΩ to 9999.99 MΩ
|Y|0.00000 uS to 999.999 kS
G, B± 0.00000 uS to 999.999 kS
θRAD± 0.00000 to 3.14159
θDEG± 0.000° to 180.000°
Cs, Cp± 0.00000 pF to 9999.99 F
Ls, Lp± 0.00 nH to 9999.99 kH
D± 0.00000 to 9999.99
Q± 0.00 to 9999.99
Δ± 0.00% to 9999.99%
Rdc0.00 mΩ to 99.9999 MΩ
εr''0 to 100000
μr''0 to 100000
  • 應用范圍
  
被動組件電容器、電感器、電阻器、變壓器、陶瓷諧振器、石英晶體
半導體組件變容二極管之 cv 特性分析、二極管
介電質材料塑料、陶瓷、印刷電路板的電容率和損耗正切評估
導磁材料 
其他組件電路板上的組件阻抗評估

 

標準配件
高頻DIP
組件測試治具(FX-0000C6)
選購配件 凱爾文測試夾線含BNC Box(F423906A)
BNC測試延長線(F6630/A/B/C)
介電常數治具(FX-0000C7)
導磁系數治具(FX-0000C8)
材料測試治具(FX-0000C9)
高頻精密型下壓式SMD測試治具(FX-000C10)
高頻精密行鑷子式測試線夾(FX-000C11)
高頻精密型SMD測試治具(FX-000C12)

 

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